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2019 - 09 - 09
基恩士VR-3200 3D轮廓测量仪测量范围是以往的5倍从产品整体的形状测量乃至粗糙度测量,无论是大范围还是细微部位,均可由1台设备完成测量。3D-CAD比较测量功能可比较测量成品与设计之间的差异,并对测量数据进行CAD输出。型号VR-3200类型工作头适用控制器VR-3000K观察测量范围大视野模式15 英寸显示器上的倍率 12x横(H)24mm纵(V)18mm15 英寸显示器上的倍率 25x横...
2019 - 07 - 12
日本岛津SHIMADZU Inspecio smx-225CT PDF HR超高级别的画质与操作性InspeXio SMX-225CT采用了本公司生产的微焦点X射线发生器与高灵敏度X射线检测器,是高性能的微焦点X射线CT系统。用户界面更直观,使得任何人都可以很容易地对样品的内部结构进行3维观察。宽大的CT载物台,可以实现更大型样品检查。从不断微型化的电子元器件到汽车的铝压铸件, 此机型可对应多种检...
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X射线断层扫描技术作为一种具有独特的功能的无损检测技术,可以用来分析增材制造(AM)产品的缺陷。缺陷的类型包括气孔、表面粗糙不平、尺寸偏差等。其形成的原因由于样品的不同而有较大的差异。粉末性能、输送粉末时不均匀、制造过程中的变形、激光束变化时造成的工艺参数的偏离、光学部件和扫描系统的操作等均会造成未熔合气孔、冶金气孔、匙孔效应气孔的生成。这些不同类型的气孔具有不同的类型尺寸、形状和3D空间分布,所有类型的缺陷均会对最终产品的机械性能造成影响。采用X射线断层扫描技术在零件进行机械性能测试前进行无损观察,可以有助于我们更好地理解气孔缺陷对部件机械性能的影响(也称之为缺陷的影响)。这些可以为我们提前辨别出有危害的部件提供了可能。由此为我们使用AM产品建立了更大的信心。本文则综述了当前AM技术对缺陷的影响,并对最近的相关工作做了总结。增材制造技术,尤其是铺粉激光增材制造(LPBF),是一种发展非常迅速的制造技术,可以获得性能优异的制品、可以制造出的材料的种类比较广泛,尤其是可以制造形状复杂的零件和可以进行优化设计是其最大优点,是当今其他制造技术不能或不易实现的。AM技术在当今发展迅速和取得的应用成就为LPBF的应用打开了广阔的市场。由于AM技术更好的被人们所理解,其应用则在更多的工业场景中更好的得到了应用。个性化定制的人体植入骨如今就得到普遍应用。X射线断层扫描技术,更好的理解气孔缺陷对部件机械性能的影响航空航天和汽车工业中对LPBF的应用也非常感兴趣。打印时较高的分辨率且可直接制造的优点在牙科和珠宝工业中也得到了应用。而且,不同的工业部件、工具和传感器等均属于应用案例。LPBF尤其适合于原位合金化材料、金属基复合材料以及个性化定制的产品等。AM技术或3D打印属于同一范畴,只是不同的叫法而已。作为一种全新的制造技术,可以实现目标产品的自由设计和制造,其机械性能、疲劳性能、声学性能,...
发布时间: 2021 - 02 - 04
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SMT贴片加工的BGA是一种封装方式,BGA是英文BallGridArray的缩写,翻译中文为球栅阵列封装。二十世纪90年代伴随着电子技术的持续发展,IC处理速度也在持续提高,集成电路芯片上的I/O脚位数量页随着持续提升,各层面要素对IC的封装明确提出高些的规定,另外以便考虑电子设备朝着微型化、精密化发展,BGA封装随着问世并资金投入生产。下边技术专业SMT贴片加工厂佩特高精密给大伙儿简易介绍一下BGA的基础加工信息内容。  一、钢网  在具体的SMT贴片加工中钢网的厚度一般为,可是在BGA器件的焊接加工中厚的钢网很有可能导致连锡,依据佩特高精密的表层组装生产工作经验,厚度为的钢网针对BGA器件而言非常适合,另外还能够适度扩大钢网张口总面积。  二、锡膏  BGA器件的脚位间隔较小,因此所使用的锡膏也规定金属材料颗粒物要小,过大的金属材料颗粒物将会造成SMT加工出現连锡状况。  三、焊接温度设定  在SMT贴片加工全过程中一般是使用回流焊炉,在为BGA封装元器件开展焊接以前,必须依照加工规定设定每个地区的温度并使用热电阻摄像头检测点焊周边的温度。  四、焊接后检测  在SMT加工以后要对BGA封装的器件开展严苛检测,进而防止出现一些贴片式缺点。      五、BGA封装的优势:  1、组装成品率提高;  2、电热性能改善;  3、体积、质量减小;  4...
发布时间: 2021 - 01 - 13
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电子显微镜(electron microscopy)是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 近年来,电镜的研究和制造有了很大的发展:一方面,电镜的分辨率不断提高,透射电镜的点分辨率达到了0.2-0.3nm,晶格分辨率已经达到0.1nm左右,通过电镜,人们已经能直接观察到原子像;另一方面,除透射电镜外,还发展了多种电镜,如扫描电镜、分析电镜等。1,材料的表面形貌观察通过扫描电子显微镜观察材料表面形貌,为研究样品形态结构提供了便利,有助于监控产品质量,改善工艺。观察的主要内容是分析材料的几何形貌、材料的颗粒度及颗粒度的分布、物相的结构等。2,涂镀层表面形貌分析与镀层厚度测量♦涂镀层表面形貌分析常见涂镀层失效现象有:褪色、图案模糊、表面磨损、腐蚀等,通过对涂层表面形貌的观察与分析,可以有效的对产品质量进行管控。材料剖面的特征 、零件内部的结构及损伤的形貌,都可借助扫描电子显微镜来判断和分析。♦涂镀层厚度测量涂镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。使用扫描电子显微镜能精确测量材料镀层厚度,且成像清晰。3,材料的微区化学成分分析分析过程中,获得形貌放大像后,往往希望能同时进行原位化学成分或晶体结构分析,提供包括形貌、成...
发布时间: 2021 - 01 - 11
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在电子高科技应用领域中,超大型集成电路由于其巨大的功能而具有大量的外部连接。在几平方厘米到几十平方厘米的芯片上,有密集的引线连接点。在这种情况下,每个连接点的质量很难被完善,并且每个焊点可能具有各种焊接缺陷,这将严重影响集成电路的可靠性。目前,新的检测技术不断创新,检测技术种类繁多,例如X射线检测技术,手动目测MVI,自动光学检测AOI,在线检测ICT,功能检测等。这些检测技术具有自己的特征:1.由于人工目视检查是一种目视检查方法,因此存在检查不稳定,成本高和焊接接头检查不准确等缺陷。2.飞针测试适用于密度相对较低的PCB,无法准确测量高密度和小型化的PCB。针床测试适用于多种大批量产品。它的测试速度快,但使用成本高,测试周期长,不适合于手机的小型化测量。4.自动电子光学检查速度快,但无法检测到电源电路的错误和不可见的焊点。5.功能测试检测速度快,使用简单,但由于不能自动诊断故障,因此不适合大量检测。相反,X射线检测技术比上述检测技术具有更多的优点。 X射线设备不仅可以检测BGA隐形焊点,还可以智能分析检测结果,为实现“一次合格率”和“零缺陷”的目标提供了有效的检测方法。因此,人们经常使用X射线设备进行测试。它使用X射线穿透不透明的材料,形成清晰可见的透视图以检测焊接质量。对于无法通过外观检查的产品,请使用X射线设备穿透不同密度的材料以显示要测试的对象的内部结构,以便可以观察到该对...
发布时间: 2021 - 01 - 08
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焊点的质量对于确定SMT组件的可靠性和性能非常重要,因此BGA焊点的质量应成为重点。因此,采取有效措施确保BGA组件的焊点质量以实现SMT组件的最终可靠性非常重要。细间距元件的局限性在于它们的引线容易弯曲和折断并且容易损坏,这对引线的共面性和安装精度提出了很高的要求。 BGA封装技术采用了一种新的设计思维模型,即在封装下方隐藏了圆形或圆柱形焊锡球,因此引线间距更大,引线更短。因此,BGA封装技术可以解决通常在细间距组件上出现的共面性和翘曲问题。因此,BGA组件的可靠性和SMT组件的性能要优于普通的SMD(表面安装器件)。 BGA组件的唯一问题是它们很难执行焊点测试,从而难以确保质量和可靠性。因此,常见的就有BGA组件的焊点问题到目前为止,可靠的电子装配器,例如PCBCart和BGA组件,已经通过电子测试暴露出来。在BGA组件的组装过程中,用于控制组装技术过程质量和确定缺陷的其他方法包括浆料筛选,AXI样品测试和电子测试结果分析。满足质量评估要求是一项具有挑战性的技术,因为很难在包装下拾取测试点。在BGA组件缺陷检测和识别中,通常无法进行电子测试,这在一定程度上增加了缺陷消除和返工的成本。在BGA组件缺陷检测过程中,电子测试仅在连接BGA组件后才能判断电流是开还是关。BGA组件组装是基本的物理连接技术过程。为了能够确认和控制技术过程的质量,必须知道并测试物理组件,以影响其长期可靠性,...
发布时间: 2021 - 01 - 06
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电子显微镜(electron microscopy)是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。电子显微镜由电子光学系统、真空系统和供电系统三部分组成,下面分别介绍三部分:  1) 电子光学系统  电子光学系统主要有电子枪、电子透镜、样品架、荧光屏和照相机构等部件,这些部件通常是自上而下地装配成一个柱体。  电子枪是由钨丝热阴极、栅极和阴极构成的部件。它能发射并形成速度均匀的电子束,所以加速电压的稳定度要求不低于万分之一。  电子透镜是电子显微镜镜筒中最重要的部件,它用一个对称于镜筒轴线的空间电场或磁场使电子轨迹向轴线弯曲形成聚焦,其作用与玻璃凸透镜使光束聚焦的作用相似,所以称为电子透镜。现代电子显微镜大多采用电磁透镜,由很稳定的直流励磁电流通过带极靴的线圈产生的强磁场使电子聚焦。  2) 真空系统  为了保证真在整个通道中只与试样发生相互作用,而不与空气分子发生碰撞,因此,整个电子通道从电子枪至照相底板盒都必须置于真空系统之内,一般真空度为10-4~10-7毫米汞柱。  3) 供电系统  透射电镜需要两部分电源:一是供给电子枪的高压部分,二是供给电磁透镜的低压稳流部分。电源的稳定性是电镜性能好坏的一个极为重要的标志。所以,对供电系统的主要要求是产生高稳定的加速电压和各透镜的激磁电流。近代仪器除了上述电源部分外,尚有自动...
发布时间: 2021 - 01 - 04
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x-RAY检测技术通过不同材料对X-RAY的吸收差异,对物体内部结构进行成像然后进行内部缺陷检测,在工业探伤与检测、医学检查和安全检验等领域已得到广泛应用。它通常用于医学上的荧光检查和工业中的探伤。如果工件的局部区域存在缺陷,则可以使用某种检测方法来确定工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置和大小。当该物质受到X射线照射时,会导致核外电子偏离原子轨道而产生电离。电离电荷的量可用于确定X射线曝光量。根据该原理,制造了X射线测量仪。 X射线检查设备用于实现零件的缺陷检测。目前,市场上的X射线检查设备广泛用于电子工业的X射线检查,半导体X射线检查,锂电池X射线检查等各个行业。它在产品检查,异物扫描中起着至关重要的作用。 以及安全检查。X-ray在锂电池行业中的应用:从锂电池的内部结构可以看出如下图所示阴极封装在阳极中,隔离带用于中间以防止阳极和阴极短路。如果使用成品电池,内部结构不能经过测试,所以使用无损检测设备是恰到好处的。通过检测阴极和阳极是否未对准,确保隔离状态,这对后续列表的安全性起着至关重要的作用。X-ray在半导体行业中的应用:当前芯片检验的常用方法通常是将芯片层层剥开,再用电子显微镜对每一层表面进行拍摄,这样检测方式对芯片具有极大破坏性,此时,X射线无损检测技术也许可助一臂之力。电子芯片X射线检测设备主要是利用X射线照射芯片内部,由于X射线的穿透力很强,能够穿透芯片后成像,其内部...
发布时间: 2020 - 12 - 31
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